图源:夏洛特·古尔/施普林格自然有限公司
X射线光电子能谱(XPS)用于材料表征，通过识别材料中存在的元素类型，提供有关材料化学成分的定量信息(目前的检测限为千分之一)。
XPS还允许标识化学状态元素，比如每个原子形成的键的类型以及它们各自的氧化态。
FLEET研究员Iolanda Di Bernado博士(莫纳什大学)解释说:“该技术可以应用于广泛的固体材料，例如验证特定合成方法产生的化学计量学，或检查掺杂剂的存在。”
Iolanda刚刚为自然评论物理系列“行业工具”写了一篇关于XPS材料特性的解释。
《自然》系列为广大读者介绍科学方法，涵盖实验和理论/计算技术。
Iolanda的文章光电发射光谱中深度剖面的非干扰技术解释说，虽然XPS只能从表面探测原子的最上面几层，但某些XPS“黑客”允许更深入的分析，而不会像其他溅射方法那样破坏样品。
改变光谱仪相对于样品表面的角度可以改变样品的探测体积和深度(如上图所示)。
Iolanda解释说:“正常排放测量(左面板)对表面不太敏感，而放牧排放测量(右面板)对表面更敏感。”
“这被证明特别有用，例如，用于估计表面氧化层的厚度，或证明样品确实是超薄的，甚至可以确定超薄薄膜中层的顺序。”
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舰队研究员Iolanda di Bernardo博士
作为FLEET三位首届女性研究员之一，Iolanda Di Bernardo博士正在为FLEET研究主题1做出贡献，雷竞技苹果版赋能技术主题A，atomically-thin材料，与FLEET CI和总监教授合作迈克尔的元首和舰队副研究员马克·埃德蒙兹．
未来低能耗电子技术中心(FLEET)是由100多名研究人员组成的合作机构，旨在开发超低能耗电子产品，以应对计算中能源使用的挑战，计算已经消耗了全球8%的电力，并且每十年就会翻一番。