先进的薄膜x射线衍射技术

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  • 先进的薄膜x射线衍射技术
    2019年9月12日
    早上10点-下午3点

先进的薄膜x射线衍射技术

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丹尼尔博士Sando

MWAC和材料科学与工程学院,新南威尔士大学

主题:

第1部分:

复习基础的x射线衍射(XRD)。

XRD薄膜:θ-2θ扫描,摇摆曲线,Φ-scans。

第2部分:

先进的技术:数据,倒易空间映射(RSM)。

结果:

确定相纯度和薄膜的晶格参数。

评估晶体外延薄膜的质量。

确定变形和/或外延薄膜的关系。

确定电影/衬底异质结构从一组数据。