- 2018年7月24日
下午2点- 3点
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原子力显微镜(AFM)是一种类型的扫描探针显微镜被广泛用于材料局部特征或操纵
纳米级分辨率。
许多功能已经开发基于AFM,包括但不限于:地形成像,测量,nano-manipulation,
nano-lithography, piezoresponse特性、电性质表征等。
这个演讲将介绍几个AFM电模式,如piezoresponse力显微镜(PFM),导电AFM (CAFM),静电力显微镜
(EFM)和开尔文探针力显微镜(KPFM)。
这些技术可用于各种应用程序来帮助理解材料的电气行为从纳米尺度的角度来看。